statischer und dynamischer Leistungshalbleiter-Test

hohe Ströme - hohe Spannungen - kurze Pulse

Halbleitertest

Halbleiter sind eine der Schlüsseltechnologien der Zukunft! Gerne bieten wir Ihnen hierfür in Kooperation mit unserer Schwestergesellschaft VX Instruments GmbH eine bewährte Lösung. 

Statischer Halbleiter-Test

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Testsystem STS8760

Das statische Leistungshalbleiter-Testsystem STS8760 wurde speziell für den Test der gesamten Palette von Halbleiterkomponenten entwickelt. Hohe Spannungen bis zu 3000V, hohe Ströme bis zu 2000A bei kurzen Pulsen von >100µs stellen für dieses Testsystem kein Problem dar.

Ausgelegt ist das System für Komponenten mit mittlerer und hoher Leistung wie:

  • Dioden
  • MOSFETs
  • IGBTs
  • Niederspannungs- bis Hochspannungs-DUTs.

Das STS8760 stellt alle Instrumente zur Verfügung, um Tests statischer Halbleiterparameter durchzuführen, z.B.:

  • RDS(ON)
  • DS-Leakage
  • GS-Leakage
  • DS-Breakdown

Die integrierte PXI-Plattform und die offene Schnittstelle bieten Erweiterungsmöglichkeiten für zusätzliche Testanforderungen wie DUT-spezifische Widerstandsnetzwerke oder Temperatursensoren. Das Testsystem wird mit dem betriebsbereiten GTS Software-Paket geliefert und ermöglicht eine einfache Programmierung von Testsequenzen (GTbuilder) und eine schnelle Ausführung im Produktions-/Testmodus (GTengine).

Dynamischer Halbleiter-Test

Testsystem DTS8765

Das dynamische Leistungshalbleiter-Testsystem DTS8765 wurde speziell für den Test der gesamten Palette von Halbleiterkomponenten entwickelt. Hohe Spannungen bis zu 1.500V, hohe Ströme bis zu 10.000A bei kurzen Pulsen von >10µs stellen für dieses Testsystem kein Problem dar.

Ausgelegt ist das System für Komponenten mit mittlerer und hoher Leistung wie:

  • Dioden
  • MOSFETs
  • IGBTs
  • Niederspannungs- bis Hochspannungs-DUTs.

Das DTS stellt alle Instrumente zur Verfügung, um Tests dynamischer Halbleiterparameter durchzuführen, z.B.:

  • Sättigungstest
  • Doppelpulstest
  • Entsättigter Test
  • Kurzschlusstest.

Die integrierte PXI-Plattform und die offene Schnittstelle bieten Erweiterungsmöglichkeiten für zusätzliche Testanforderungen wie DUT-spezifische Widerstandsnetzwerke oder Temperatursensoren. Das Testsystem wird mit dem betriebsbereiten GTS Software-Paket geliefert und ermöglicht eine einfache Programmierung von Testsequenzen (GTbuilder) und eine schnelle Ausführung im Produktions-/Testmodus (GTengine).

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Gerne entwickeln wir auch individuelle Lösungen für Sie! Wir freuen uns auf Ihre Kontaktaufnahme.